Ｘ线头影测量分析在口腔烤瓷美容修复中的应用上海市徐汇区牙病防治所上海２０００３２徐培成刘泓虎朱霖目的：评估Ｘ线头影测量分析在中年人上颌前突烤瓷美容修复过程中的作用。方法手术前采用Ｘ线头影测量分析辅助选出上颌前突的中年人适合进行烤瓷美容修复的人群，对１８例中年（女性１６例，男性２例，平均年龄４５.６岁）上颌前突的患者进行烤瓷美容修复，手术后采用ｘ线头影测量分析评价烤瓷修复的效果。
结果烤瓷美容修复后上中切牙长轴明显舌侧倾斜，上下中切牙构成角度趋于正常，覆颌、覆盖关系基本接近正常；上下唇软组织较前点明显后退，侧貌形态显着改善。结论ｘ线头影测量分析为中年人上颌前突烤瓷美容修复的治效果提供了评估的参考标准。
上颌前突是临床比较常见的错颌畸形。由于上颌前牙显着唇侧倾斜，造成口唇前突，开唇露齿，上下唇软组织形态严重失调，影响颌面正侧貌的美观，甚至给患者带来心理上的不良影响。过去的矫正治对象主要为儿童和青少年，随着社会经济条件的改善、人们对生活质量要求的提高、以及正畸和修复的基础研究和手术式的进步，要求治的成年患者也日益增多。成年人无论从口腔状态、体质及心理上，其治条件和目标都不同于生长发育期中的青少年儿童，其治的要求、范围和限度也有差别。中年人的牙齿经过几十年的使用，特别是一些牙列不齐患者由于平时缺乏口腔保健意识，就诊时口腔卫生状况较差，常伴有严重的牙体病、牙周病和明显的牙齿移位，给常规的正畸治带来很大的困难，有些甚至已经超出了正畸治的范围；也有不少患者因职业、社交等各种因素，难以接受需要１～２年疗程的固定矫治手术式。对于这类渴望改善上颌前突又不能和或不愿正畸治的患者，采用烤瓷美容修复的方法取得了很好的效果，但一直以来因缺少客观的评估标准而无法对效果进行评价。本文 创将口腔正畸中Ｘ线头影测量分析应用在该类患者的诊疗之中，为烤瓷美容修复的治效果提供了比较客观的参考标准。
材料和方法研究对象１８例中年患者属于牙性或者轻度骨性错颌Ⅱ～Ⅲ度深覆殆，Ⅲ度深覆盖；其中女性１６例，男性２例，平均年龄４５。６岁。１８例病人口腔状况较差，正畸科医师认为不适宜进行正畸治，同时患者也拒绝接受固定矫治。
临床对象操作步骤： （１）进行常规口腔检查（包括拍摄口腔全景片及Ｘ线头颅侧位定位片），对牙体病、牙周病进行完善的治。 （２）常规取模，一副为记存模，作为治前后对比使用：另一副作为工作模，转移至殆架上进行牙齿排列试验，以确定烤瓷美容修复的设计方案。 （３）具体操作过程，包括根管治、牙体制备、取模、灌模，制作暂时修复体、烤瓷牙比色，初戴。 （４）手术后拍摄Ｘ线头颅侧位定位片，并取手术后记存模。
测量项目测量标志点共１４点： １、耳点（Ｐ）； ２、眶点（０ｒ）； ３、颏前点（ｐｏ）； ４、颏下点（Ｍｅ）； ５、下颌角点（Ｇｏ）； ６、上中切牙点（Ｕ１）； ７、下中切牙点（Ｌ１）； ８、上唇较前点（ＵＬｓ）； ９、下唇较前点（ＬＬｓ）； １０、上齿槽座点（Ａ）； １１、下齿槽座点（Ｂ）； １２、Ｂ点在软组织上的对应点（Ｂｓ）； １３、Ｐｏ点在软组织上的对应点（Ｐｏｓ）； １４、上下口唇的接触点（Ｓｔ）。
角度测量共３项： ①上中切牙角（Ｕ１－ＦＨ）：上中切牙长轴与眼耳平面相交之后下角。 ②下中切牙角（Ｌ１.Ｍｐ）ｔ：下中切牙长轴与下颌平面（Ｍｐ）相交之后上角。 ③上下中切牙角（Ⅱ）：上下中切牙长轴的后交角。
X线距测量共８个项目： 1、水平距离测量：连接Ａ、Ｂ两点成一直线。分别测量ｕＬｓ、ＬＬｓ、Ｂｓ、Ｐｏｓ至ＡＢ线的垂直距离。为ｕＬｓ一－ＡＢ、ＬＬｓＡＢ、Ｂｓ一ＡＢ、Ｐｏｓ一ＡＢ。 2、垂直距离测量：连接ｕＩ、Ａ两点成一直线，与上腭平面（Ｐａｌａｔａｌ ｐｌａｎｅ）相交之点Ｃ；连接Ｌｌ、Ｂ两点成一直线，与下颌平面（Ｍａｎｄｉｂｕｌａｒｐｌａｎｅ）相交之点Ｄ，从Ｓｔ点分别作Ｕｌ—Ａ及Ｌｌ—Ｂ线的垂足，并分别测量垂足至ｃ和Ｄ之间的距离，即为Ｓｔ—Ｃ和ｓｔ—Ｄ的距离，分别代表上下口唇的长度。 3、覆颌（ＯＢ）：上下中切牙点之间的垂直距离。 4、覆盖（ＯＪ）：上切牙切端至下切牙唇面的水平距离。 5、数据采集及统计学分析由作者在一段时间内连续完成Ｘ线片描绘和测量。治前后测量数据输人计算机。应用ＳＡＳ统计学分析软件进行治前后配对ｔ检验。 6、结果治前后的角度变化 在统计学上Ｕ１一ＦＨ和ＩＩ角度治前后均有高度显着性差异， Ｌ－Ｍｐ角度治前后无明显差异。 7、治前后的线距变化见表２。在统计学上ｕＬｓ。ＡＢ和ＯＪ治前后有高度显着的差异，ＬＬｓ一ＡＢ、０Ｂ及Ｃ一Ｓｔ治前后有显着差异，Ｄ－ｓｔ治前后无明显差异。 8、治前后Ｘ线头颅侧位重叠变化从治前后Ｘ线头颅侧位定位片描绘重叠图可以清楚地显示，伴随着上中切牙显着的舌侧移位及牙冠的垂直距离的调整，使前牙区的覆殆、覆盖关系显着改善，同时上下唇软组织侧貌也由治前显着的前突变成较为美观、协调的外形。同样，从表１、２反映出，上中切牙明显舌倾，Ｕ１一ＦＨ由治前的１１２.５减少至治后９４.８使前牙覆盖减少９咖，得到明显改善。
ＩＩ由治前的１０２.８增加至治后的１１９.３，使上下中切牙构成角度更趋合理，一定程度上恢复了前牙区前伸运动时应有的咬颌诱导，对颞下颌关节起到了间接的保护作用。
讨论ｘ线头影测量分析对中年人上颌前突进行烤瓷美容修复的评估： （１）Ｘ线头影测量分析的现状： 头颅侧位定位片在Ｘ线头影测量中较为常用，它反映了颅面部软硬组织在矢状方向及纵向的形态结构。ｘ线头影测量分析是口腔正畸学、正颌外科学等学科对牙颌、颅面畸形进行科学研究和临床诊断、治的基本手段。Ｘ线颅颌面影像分析手术式在发展过程中，经历了三个阶段：
较：人工进行测量分析：人工画出颅颌面轮廓线，确定标志点，然后使用直尺、量角器等测量这些点与点之间的距离及点与点连线的角度。第二：计算机辅助测量分析：人工画出颅颌面轮廓线、确定标志点，而后通过图形数字化仪将标志点坐标值输入计算机内；或者，Ｘ线片经过扫描仪将图像信息输入计算机内并显示于屏幕，使用鼠标在屏幕上确定标志点。上述两种方式均为人工定点，随后，在计算机内进行测量分析。国内外许多学者的研究表明传统手工Ｘ线头影测量存在较大误差，其误差主要来源于手工定位标志点的不确定性。造成手工定点误差的原因有很多。其中主要包括：测量操作者的专业知识及临床经验、Ｘ线片的质量（对比度、明暗度和清晰度受Ｘ线投照和冲洗过程的影响，使许多组织结构难以辨清）、解剖标志点定义的统一性及其认同偏差、颅颌面结构本身复杂性等，另外资料不易管理，描绘测量方法步骤繁琐，耗费大量人力物力【１】。第三：计算机自动识别分析【２】｛由于Ｘ线颅颌面影像为立体形态且结构复杂，当集中于一张Ｘ线片后，是不同图像的重叠。因此，如果采取同一标准来对整个图象进行分层较为困难且效果很不理想【３】；且头颅解剖结构的不完全对称，Ｘ线曝光较差等原因，导致自动定点的准确性较差，因此目前部分颅面部结构可以自动识别，实现了软硬组织轮廓的自动描绘，上颌骨及其一些复杂的解剖结构还无法完全自动识别。
（２）Ｘ线头影测量分析有助于病例的选择上颌前突分为牙性和骨性两种: 通过Ｘ线头影测量分析，有助于医生判断上颌前突的类型，牙性上颌前突和轻度骨性上颌前突的患者进行烤瓷美容修复比较容易达到满意的效果。对于单纯牙性上颌前突的患者，可以考虑仅对上颌进行美容修复；如果是明显的牙性上下颌双颌前突时，必须考虑上下颌是否同时修复。
（３）Ｘ线头影测量分析有助于医患沟通治: 先对患者进行仔细的口腔检查，包括牙量、骨量分析、牙弓长宽度分析及Ｘ线头影测量分析；并在可调式牙合架上固定研究模型，根据烤瓷修复的设计原则，制作确定上下前牙的唇舌向倾斜角度、垂直高度和解除前牙拥挤的牙排列模型，较终得到正常的或接近正常的覆牙合、覆盖关系及前牙前伸诱导牙合，消除颌干扰。使医患双方在手术前能对治计划在功能和美观方面达成共识。Ｘ线头影测量分析表现为一系列完整复杂的角度关系，高度体现了医师的专业能力，有助于增强患者对主治医师的信任，更顺利的完成治。
（４）有助于显示颜面部硬、软组织的变化： Ｙｏｇｏｓａｗａ的研究揭示，上颌前突患者治前后上前牙的后退量和上唇软组织的后退量有着很高的相关性，但与下唇软组织的后退量也存在着一定的相关关系。本研究同样显示，随着上前牙的舌侧移位，表示上唇前突程度的ＵＬｓ—ＡＢ减少了５.８ｍｍ，表示下唇前突程度的ＬＬｓ—ＡＢ减少了４.４衄，表示下齿槽座点在软组织对应部位的前后程度的Ｂｓ—ＡＢ减少了２.３ｍｍ，与Ｙｏｇｏｓａｗａ的研究结论基本是一致的。另外，反映上下唇软组织长度的Ｃ—ｓｔ和Ｄ－ｓｔ，由于上下前牙唇舌侧倾斜及垂直位置的变化，也发生了微妙的变化，表示上唇长度的Ｃ—ｓｔ减少了２.２ｍｍ，表示下唇长度的Ｓｔ增加了１.２ｍｍ。因此，上下前牙位置的变化，导致了一系列上下唇软组织形态的变化，使得前突的侧貌在美观上得到显着的改善，前牙区前伸咬合诱导的功能也得到了一定的恢复。